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                    當前位置:首頁  >  技術文章

                    • 2022

                      6-14

                      金相顯微鏡是將光學顯微鏡技術、光電轉換技術、計算機圖像處理技術巧妙地結合在一起而開發研制成的高科技產品,可以在計算機上很方便地觀察金相圖像。常用于鑒別和分析各種金屬、合金材料和非金屬材料的組織機構,是金屬學和材料學研究材料組織結構的儀器,也是科研和教學領域的得力助手。我們在學習該顯微鏡的知識點時,這點要認真的了解,那就是正置與倒置的主要區別:正置微鏡具有和倒置顯微鏡同樣的基本功能,因此更廣泛的應用于透明,半透明或不透明物質。大于3微米小于20微米觀察目標,比如金屬陶瓷、電子芯...

                    • 2022

                      6-14

                      原子力顯微鏡(AtomicForceMicroscopy,AFM),是一種可用來研究包括絕緣體在內的固體材料表面結構的分析儀器。它通過檢測待測樣品表面和一個微型力敏感元件(探針)之間的極微弱的原子間相互作用力來研究物質的表面結構及性質。AFM可以對樣品表面形態、納米結構、鏈構象等方面進行研究,獲得納米顆粒尺寸,孔徑,材料表面粗糙度,材料表面缺陷等信息,同時還能做表面結構形貌跟蹤(隨時間,溫度等條件變化)。也可對樣品的形貌進行豐富的三維模擬顯示,使圖像更適合于人的直觀視覺。結合...

                    • 2022

                      5-24

                      高精度影像測量儀是的一款超高精度測量設備,操作簡易靈活,擁有自動對焦、自動檢測等功能,可以向客戶提供完整的測量方案。儀器用于汽車零配件、科研院所、塑膠、高精度電子、醫療器械等制造業。成像散光問題,一直是制約影像測量儀測量的原因之一。在不同的制造企業研究中心都在為這一問題存在而潛心鉆研。那么,倒底什么是散光問題,如何進行處理呢?在高精度影像測量儀實際操作時,啟動開關電源后,如果在大屏幕上出現成影不集中,分辨率低的時候,我們就稱之為影像測量儀的散光故障。這時候無論如何更新物鏡,或...

                    • 2022

                      5-13

                      凡具有雙折射的物質,在偏光顯微鏡下就能分辨的清楚,當然這些物質也可用染色法來進行觀察,但有些則不可用,而必須利用偏光顯微鏡。反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質進行研究鑒定的儀器。偏光顯微鏡是用于研究所謂透明與不透明各向異性材料的一種顯微鏡,被廣泛地應用在礦物、化學等領域,在生物學和植物學也有應用。如何對偏光顯微鏡的偏振鏡進行校正?(1)目鏡十字絲的檢測一般要檢查目鏡十字絲是否正交,以及是否與上下偏振鏡振動方向一致,同時選一塊解理極完全的黑云母,移至目鏡十字絲的...

                    • 2022

                      5-7

                      我們知道,三坐標測量儀的測量精度和工作效率與測針的選擇和校準緊密相關。因為測針的測球都有自己的尺寸,而測量零件的不同位置可能是用測球的不同位置去接觸零件的。因此,測量的數據中含有測球自己的數值,而測針校準就是測量測球自己尺寸大小的過程。特別是校準不同長度和位置的測針時,測球校準結果球度誤差的大小對測量結果的影響至關重要。因此,進行測量工作之前,必須要合理的選擇測針,并做好測針校準。下面,談一談三坐標測量儀如何正確選擇測針:1、盡可能選擇短的測針:因為測針越長彎曲或變形量越大,...

                    • 2022

                      4-25

                      自動影像測量儀是復雜而又精密的光學儀器,在野外和礦井坑道內進行作業時,經常要道受風雨、日曬和煤塵、濕氣等有害因素的侵蝕。因此,正確的使用、妥善的保養,對于保證儀器的精度、延長其使用期限具有極其重要的意義。那么,自動影像測量儀在使用中容易遇到哪些故障呢?怎么解決故障,從而減少儀器故障呢?1、升降傳動故障常見的有升降有異響、無法上升,下降、下降有墜落感,彈跳、傳動時空回間隙大、微調不傳動、投影屏框松動等。2、工作臺故障一般容易出現光桿空轉、光桿傳動有彈跳、磨擦傳動時不順、工作臺運...

                    • 2022

                      4-24

                      日立SEM掃描電子顯微鏡,是自上世紀60年代作為商用電鏡面世以來迅速發展起來的一種新型的電子光學儀器,被廣泛地應用于化學、生物、醫學、冶金、材料、半導體制造、微電路檢查等各個研究領域和工業部門。其特點是制樣簡單、放大倍數可調范圍寬、圖像的分辨率高、景深大、保真度高、有真實的三維效應等,對于導電材料,可直接放入樣品室進行分析,對于導電性差或絕緣的樣品則需要噴鍍導電層。日立SEM掃描電子顯微鏡是利用材料表面微區的特征(如形貌、原子序數、化學成分、或晶體結構等)的差異,在電子束作用...

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